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Fischer XDLM 231无损测厚和薄涂层射线分析仪

XDLM测量系统经常用来测量接插件和触点的各种底材上的Au/Ni,Au/PdNi/Ni,Ag/Ni或Sn/Ni镀层的厚度

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德国菲希尔FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射线荧光镀层测厚和材料分析仪是普遍适用的能量色散X射线光谱仪。 它们构成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列开发的下一步。 像它们的前辈一样,它们特别适合于无损厚度测量和薄涂层分析以及批量生产的零件和印制板上的自动测量。有三个型号:XDLM 231具有平面支撑台,XDLM 232具有手动操作的X / Y台。 XDLM 237配备了一个电动X / Y平台,当打开防护罩时,该平台会自动移到装载位置。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列与XUL和XULM系列密切相关:两者都使用相同的接收器,准直器和滤片组合。配备了标准X射线管和固定准直器的XDL仪器非常适合大工件的测量。XDLM型号的X射线源采用微聚焦管,可以测量细小的部件,对低辐射组分有较好的激励作用。此外,XDLM配备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地为不同的测量应用创造*佳的激励条件。

Fischer XDLM 231无损测厚和薄涂层射线分析仪

两种型号的仪器都配备了比例接收器探测器。即使对于很小的测量点,由于接收器的接收面积很大,仍然可以获得足够高的计数率,确保良好的重复精度。比较XUL和XULM仪器而言,XDL和XDLM系列仪器测量测量方向从上到下。它们被设计为用户友好的台式机,使用模块化结构,也就是说它们可以配备简单支板,各种XY工作台和Z轴以适应不同的需求。


应用实例:

        XDLM测量系统经常用来测量接插件和触点的各种底材上的Au/Ni,Au/PdNi/Ni,Ag/Ni或Sn/Ni镀层的厚度。通常功能区都是很小的结构如先进或突起,测量这些区域必须使用很小的准直器或适合样品形状的准直器。例如测量椭圆形样品时,就要使用开槽的准直器以获得*大的信号强度。

PCB测量: Au/Ni/Cu/PCB

电镀液成份分析Cu, Ni, Au (g/l)

防腐保护性镀层: Zn/Fe


主要特征

  ✔ 带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。
 ✔ 最高工作条件:50KV,50W
 ✔ X射线探测器采用比例接收器
 ✔ 准直器:固定或4个自动切换,0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
 ✔ 基本滤片:固定或3个自动切换
 ✔ 测量距离可在0-80 mm范围内调整
 ✔ 固定样品支撑台 ,手动XY工作台
 ✔ 摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。
 ✔ 刻度线经过校准,显示实际测量点大小。
 ✔ 设计获得许可,防护全面,符合德国X射线条例第4章第3节

典型应用领域

 ✔ 大批量电镀件测量
 ✔ 防腐和装饰性镀层,如镍或铜上镀铬
 ✔ 电镀行业槽液分析
 ✔ 线路板行业如薄金,铂和镍镀层的策略
 ✔ 测量接插件和触点的镀层
 ✔ 电子和半导体行业的功能性镀层测量
 ✔ 黄金,珠宝和手表行业


通用规格
设计用途
能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)用于确定薄涂层,小结构,痕迹和合金。
元素范围
氯Cl(17)至铀U(92)–同时多达24种元素
设计理念
台式仪器,测量门向上开启
测量方向
由上往下
X射线源
X射线管
带铍窗口的钨管
高压
可调: 30 kV,40 kV,50 kV
孔径(准直器)
4倍可更改:Ø0.1毫米; Ø0.2毫米 Ø0.3毫米 插槽0.05毫米x 0.05毫米(其他可根据要求提供)
测量点尺寸
取决于测量距离及使用的准直器大小, 实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 *小的测量点大小:约 Ø0.15mm
X射线探测
X射线接收器
比例接收器
电气参数
电源要求
AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
功率
*大 120 W (不包括计算机)
保护等级:
IP40
尺寸规格
外部尺寸
宽×深×高[mm]:570×760×650
内部测量室尺寸
宽×深×高[mm]:460×495x(参考“样品*大高度”部分的说明)
重量
105 kg
环境要求
使用时温度
10°C – 40°C
存储或运输时温度
0°C – 50°C
空气相对湿度
≤ 95 %,无结露
工作台
设计
固定工作台
Z轴行程
140 mm
可用样品放置区
463 x 500 mm
样品*大重量
20kg
样品*大高度
140 mm



测量方向、镀层厚度和材料分析


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