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德国菲希尔 X-RAY XDAL® 237 X射线荧光测量仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器的测量空间宽大,可以用于测量复杂几何形状的各种样品。这台仪器适合于一般材料分析,痕量元素分析及测量薄镀层厚度。

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FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237

X射线荧光测量仪,带有快速可编程的XY平台和Z轴,可自动测量薄涂层厚度和进行材料分析


 XDAL® 237 X射线荧光测量仪

在设计上,FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器和XDLM型仪器相对应。区别在于使用的探测器类型不同。在XDAL上,使用了帕尔贴制冷的硅PIN探测器,从而有了远好于XDLM使用的比例计数器的能量分辨率。因而,这台仪器适合于一般材料分析,痕量元素分析及测量薄镀层厚度。

        FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器的测量空间宽大,可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置*高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。测量系统配有快速可编程的XY平台,因而可以方便地按照预定程序扫描检查样品表面。此外,在如引线框架等样品上进行多点测量,或是在多个不同样品上进行批量测量,都可以通过快速编程自动化地完成。 X射线源是一个能产生很小光斑面积的微聚焦X射线管。然而,由于相对较小的探测器有效接收面积(相比较比例计数器探测器来说),信号强度低,故XDAL有限适用于极微小结构和测量点的测量。和XDLM类似,准直器和基本滤片是可自动切换,以便为不同测量程式创造*佳的激励条件。

德国菲希尔 X-RAY XDAL® 237 X射线荧光测量仪

 XDAL® 237  X射线荧光测量仪主要特征

 XDAL® 237  X射线荧光测量仪典型应用领域

▶带有铍窗口和钨钯的微聚焦X射线管。
▶*高工作条件: 50 kV, 50W
▶X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅PIN二极管
▶准直器:4个,可自动切换,从直径Ø 0.1mm 到 Ø 0.6 mm
▶基本滤片:3个,可自动切换
▶测量距离可在0—80mm范围内调节
▶可编程XY平台
▶视频摄像头可用来实时查看测量位置,十字线上有经过校准的刻度标尺,而测量点实际大小也在图像中显示。
▶设计获得许可,防护全面,符合德国X射线条例第4章第3节


▶镀层与合金的材料分析(包括薄镀层以及低含量)。
▶来料检验,生产监控。
▶研发项目
▶电子行业
▶接插件和触点
▶黄金、珠宝及手表行业
▶测量印刷线路板上仅数个纳米的Au和Pd镀层
▶痕量分析
▶根据高可靠性要求测量铅Pb含量
▶分析硬质镀层材料


含铅量测试

PCB 装配: 含铅量测试

速钢钻头:TiN/Fe

高速钢钻头:TiN/Fe

在电子元器件中测量Pb含


可靠性高:在电子元器件中测量Pb含量 (>3%)

刀具检测

刀具:TiN/Fe

应用实例

        FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器可以用来测量SnPb焊层中的铅含量。在这一应用中,首先要准确测量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工业中高可靠性的要求,为避免裂纹的出现,合金中Pb的含量至少必须在3%以上。另一方面,对于日常使用的电子产品,根据RoHS指令要求,Pb在焊料中的含量*多不能超过1000ppm。尽管XDAL测量Pb含量的测量下限取决于SnPb镀层的厚度,但是通常情况下XDAL的测量下限足够低,可以很轻易达到以上的测量需求。




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