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X-RAY 5000大面积合金分析和超薄镀层测量仪

FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 Series,X射线荧光测量系统,用于在生产过程中连续在线测量和分析薄涂层,即CIGS,CIS和CdTe

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FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 Series

X射线荧光测量系统,用于在生产过程中

连续在线测量和分析薄涂层,即CIGS,CIS和CdTe



FISCHERSCOPE X-RAY 5000系列仪器是为了集成到生产线而特别设计的法兰式测量头。它完全适合于在连续运转的生产过程中连续、非破坏地在线直接对大面积产品进行合金成分分析或者*薄镀层测量。相对于X-RAY 4000系列而言,X-RAY5000没有配备可切换的滤片和准直器,也没有配备视频系统,因为这些装置对于表面积很大的样品来说通常是不需要的。

        X-RAY 5000系列仪器可以根据使用进行完全定制:X射线源、基本滤片和半导体接收器,更能为您的高端应用配备*先进的半导体接收器。仪器可以在空气或者真空环境下使用,此外还可以提供带有水冷系统的法兰接口,它可以让仪器毫无问题地测量表面温度非常高的样品(表面温度*高可达500℃)。

        根据仪器的设计,测量距离可以在60mm至150mm之间调节:在特定的情况下,测量距离*大允许有1厘米的变动,例如由于样品的起伏引起的,在测量时,WinFTM软件会自动进行补偿。仪器的校正直接在生产过程中对着校准板快速而简便地完成。通过纯元素库的进行更好的校正(类似于台式仪器的校准过程)是可行的,但是通常没有必要。X-RAY 5000由于配备了*大的准直器、*先进的半导体接收器和数字脉冲处理器,重复精度非常好。仪器出色的长期稳定性也大大降低了重新校准的必要,这样既节约了时间,又节约了资源。



特征
    • 带玻璃窗口的钨靶的X射线管,也可选铍窗口微聚焦钨管、铑管或者钼管,z高工作条件:50 kV, 50W
    • X射线接收器采用珀耳帖法冷却的硅-PIN探测器或者硅漂移探测器
    • 固定的视准器:可选Ø 1 mm, Ø 2 mm, Ø4 mm 或者Ø 8 mm (使用SDD的机型还可以选用 Ø 11 mm)
    • 固定的基本滤片
    • 测量距离:可选60–100 mm 或者100–150mm

典型应用领域
    • 太阳能光伏业(CIGS, CIS, CdTe)
    • 分析金属带、金属箔和塑料薄膜上的*薄镀层
    • 连续生产过程在线测量
    • 喷镀和电镀线的过程监控
    • 测量大面积样品



应用实例

在光伏产业中,FISCHERSCOPE X-RAY 5000用来测量不同基材(如玻璃、金属和塑料)上的CIGS、CIS和CdTe层的厚度和成分。该仪器设计非常紧凑,可以通过标准法兰直接集成到生产线中去。整个工业设计专注于*大化其鲁棒性和可维修性。例如:仪器可以在生产线真空环境中进行修理和维护,而并不需要中断真空过程。为了将X-RAY 5000测量系统整合到上级的过程控制系统中,仪器具备符合工业标准的开放端口,例如:OPC。


CIGS: CuInGaSe/Mo/glass

CIGS: CuInGaSe/Mo/foil

太阳能光伏业(CIGS, CIS, CdTe)





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