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德国fischer X射线仪器数学核心 一 WinFTM软件

WinFTM是所有FISCHERSCOPE X-RAY设备的数学运算核心。这款高性能软件能够对 X 射线荧光仪器进行简单直观的操作。除此之外,还能够为用户提供支持,引导用户完成复杂程度不同的测量任务。

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WinFTM:
WinFTM是所有FISCHERSCOPE X-RAY设备的数学运算核心。这款高性能软件能够对 X 射线荧光仪器进行简单直观的操作。除此之外,还能够为用户提供支持,引导用户完成复杂程度不同的测量任务。因此,可轻松避免各种操作失误。



特性:
    • 在单一软件包内集成了适用于 X 射线荧光分析的所有功能:镀层厚度测量、材料分析、测量任务定义、所有 FISCHERSCOPE X 射线荧光仪器的操作与配置。
    • 无需在 多个软件模块之间进行切换!
    • 高分辨率视频图像,可针对测量点进行精确定位控制
    • WinFTM软件可实现无标准片测定样品中包含的元素
    • 自动化图像识别,非常适用于自动化测量,例如连续部件测试:软件识别并自动测量先前记录的测量点,无需单独进行预编程
    • 通过WinFTM软件可轻松设置自动测量和设备监控
    • 适用于工业生产和研发




详细功能介绍:


每台X-RAY荧光测量设备都需要配置功能强大的软件,这样才称得上是真正的测量仪器。因此,FISCHERSCOPE® X-RAY仪器只有与菲希尔创新WinFTM软件一起才能实现*优的测量结果。WinFTM软件是所有FISCHERSCOPE® X-RAY仪器的数学核心。它通过测得的X射线光谱收集关于镀层厚度和成分的信息,不管样品是纯元素镀层,合金镀层及其组合或是多元合金



   

在这方面,菲希尔一路*先,WinFTM软件采用了基于逼真的物理模型的有效数学算法。由于这个原因,所以的测量都可以在无标准片校正的情况下进行。除此以外,WinFTM软件还是界面友好和使用便捷的FISCHERSCOPE X-RAY仪器的控制中心,不仅可以在实验室使用,还可以用于日常工业用途。


应用范围

无论是电镀厂的简单的镀层厚度测量(例如铁上镀锌),还是镀液分析,复杂的多镀层应用, 极其复杂的贵金属分析或痕量分析(RoHS),一个软件程序就可以完成所有的测量应用:WinFTM。


界面友好

无论是来料检验,生产质量控制,或是政府机构的实验室材料测试,WinFTM软件都可以实现仪器投运要求的多种多样的应用。如此复杂的仪器可以很方便而直观地控制是FISCHERSCOPEX-RAY系列仪器被广泛接受的关键所在。

带十字线的视频图


RoHS 标准片

由于这个原因,菲希尔开发了无需特殊培训就可以进行日常操作的WinFTM软件。基于众所周知的Windows标准,直观的用户界面,预先设定的自动流程和命令按钮,工作起来非常容易。所有实际需要的功能都可以快速进入和显示,整个界面看起来很整洁协调。


校正

质量标准要求测量设备都能用基于可追溯到国际或国家的校正标准片进行校正,这样的测量结果就是可追溯和有可比性的(比较其它方法而言)。基于这个原因,FISCHERSCOPE® X-RAY仪器的每个测量应用程式都是可以校正的。 WinFTM软件储存和管理所有的校正数据,这样可以简单方便地记录和证实校正情况


误差计算 / 计算测量不确定性

WinFTM软件提供完整的误差计算功能。单次测量(或几个测量值的平均值)的所有不确定性都会进行计算,会考虑标准片,校正测量的计数统计和测量本身的不确定性。测量不确定性保证了测量结果的所需要的追溯性。


视频图

WinFTM软件以与基本射线相同的视角显示样品的图像。图像上集成有校准过刻度的自适应十字线,可以以实际尺寸显示样品表面的图像放大区域的测量点位置。自动聚焦功能可以方便,精确和重复实现光学聚焦。


DCM-距离控制测量

为了测量形状不规则部件或腔体内部,FISCHERSCOPE® X-RAY仪器具备一个基于距离测量修正的特点:DCM方法。这个功能可以用来测试表面形状复杂和测量腔体内部,当计算该区域的测量结时,WinFTM软件会自动根据当前的测量距离进行修正。


自动测量

重复序列的测量可以很方便地通过预定义指令自动完成,这个可以通过激活用户定义的命令按钮顺序实现。即使是对操作员来说很复杂的测试方案,如生产质量控制,也可以集成到一个很简单的操作步骤中。当使用可编程的XY工作台时,样品上的测量点可以自动进行重复性的测试WinFTM软件可以通过图像处理识别特定结构并自动追踪测量位置。例如对于形状公差要求高的样品,这可以保证测量总是在正确的位置进行。

使用DCM方法辅助测量


自动测量

底材识别
对某些镀层厚度的测量,WinFTM软件还可以自动分析底材成分。这不仅可以消除归一化时测量不同底材的需求,还可以增加结果的可靠性,因为镀层厚度可以在不受底材成分波动的情况下准确测量。
材料种类 (COM)
使用COM功能,未知的样品可以自动指定给预定义的材料种类。这些种类可以是各种不同的材料,如不同的合金,特定的镀层厚度或某个镀层结果的成分范围。
例如,这样可以对金合金中的金含量的高,中,低进行区分或是否包含特定的合金元素。需要注意的是定义在种类中需要的光谱都是根据理论计算的,这样就不需要浪费很多时间做多种材料样品的校正。这个系统也可以适应或扩展以满足用户的特定需求。
当测量未知样品或多组分材料和镀层厚度时,WinFTM软件可以自动选择合适的应用程式测量。
例如在金合金分析时,WinFTM软件首先确定合金的类型,然后选择适合的测量应用程式,从而可以高精度地测定金含量。
多次激
每个应用程式都设定了激发参数“高压”和“基本滤片”以便获得*可能好的结果。然而对于某些应用程式,有必要采用不同的激发条件以便*优地测量所有参数。WinFTM软件允许在单次测量中使用多次激发,这样所有的参数都可以在*好的条件下测试;*终结果进行综合评估后给出。



可靠性
没有什么比毫不知情地得到一个错误的测量结果更坏的了!为此WinFTM软件自动检查是否选择的应用程式匹配当前的待测样品,并在有差别时提醒操作员。后台测试监控仪器和基本参数确保测量结果的高度可靠。


统计计算

根据单个的测量结果,集成的统计功能计算平均值,标准偏差和变化率,并把这些值显示在统计窗口。测量结果可以以单个,列表或SPC图形的形式显示,也可以存档

测试报告


镀层厚度分布3D 显示



除此以外,Wi n F T M 软件还可以以分布图( 直方图, 累积概率图) 或统计进程图( S P C ) 的形式显示测量结果。能力指标Cp 和Cp k 根据设定的公差计算。



输出测量结果和打印报表
单个测量值和平均值与它们的测量不确定性,特征统计值以及与测量有关的其它数据,都可以输出到文件并且可用在质量管理系统的计算。集成的报告生成器可以单独的结果报告和定制的打印报表模版。报表的内容可以自由设定,如含测量点显示的样品图像、测量结果、特征统计值、直方图、累积概率图、光谱等等。


WinFTM 软件特点
 通用软件
 镀层厚度测量和分析
 打包所有功能
 界面友好,操作直观
 基本参数法
 材料种类查找
 自动测量
 测量参数可调整(高压,滤片和准直孔)
 多次激发
 视频图像--可放大、含十字线、自动聚焦
 底材材料识别
 DCM – 距离控制测量
 统计功能
 数据输出
 报告生成器
 储存校正结果和设定
 多种接口和网络选项






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