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BETASCOPE β 射线涂镀层测量(配合MMS PC2 )

BETASCOPE,在所有 FISCHER 测量仪器中,BETASCOPE 可提供Z多的涂镀层组合。

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BETASCOPE,在所有 FISCHER 测量仪器中,BETASCOPE 可提供Z多的涂镀层组合。通过 β 射线方法,BETASCOPE 无需依赖于样品的磁性或电特性即可测量涂镀层厚度。因此,它能够测量任何底材上任何涂镀层的厚度,只要涂层材料与底材的原子序数相差至少为 5 即可。作为通用测量系统 MMS PC2 的插件模块,BETASCOPE 能够与许多其他测量技术相结合,同时还可利用 MMS PC2 的优势。




特性:
�  通过 β 射线背散射法进行无损测量
�  可测量几乎所有的涂镀层与底材组合
�  无需任何特殊制备,可随时测量;测量过程只需几秒钟
�   测量无需任何化学品或耗材
�   测量符合标准 DIN EN ISO 3543 与 ASTM B567a
�  作为通用测量系统 MMS PC2 的插件模块进行使用
�  多种附件可供选择
应用领域:
�  纳米涂层
�  太阳能电池涂层
�  单层电镀层
�  各种底材上的有机涂层
�  防腐蚀涂层,如金属生产与加工行业中的油覆层
�  薄膜、纺织品、织物以及其他有机涂覆层

功能原理:

同位素源可发出 β 射线(电子)。它们可穿透带涂层工件的表面,并与涂层和基材的原子相互作用。测量效果包括通过盖革-米勒计数管检测到的背散射电子的数量。当涂层与基材的原子数 Z 相差至少为 Z = 5 时,可通过该方法确定涂层厚度。







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