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德国FISCHERSCOPE X-RAY XAN系列测厚仪

无论是高精度镀层厚度测量或是精确材料成分分析,FISCHER众多系列的X-ray荧光光谱仪可以为任何应用提供理想仪器选择

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▶丨FISCHER X-ray荧光光谱仪介绍:

无论是高精度镀层厚度测量或是精确材料成分分析,FISCHER众多系列的X-ray荧光光谱仪可以为任何应用提供理想仪器选择。除了拥有很多的创新和**之外,FISCHER-SCOPE X-RAY产品线还具备近30年的经验,并且仍在不断的发展中,确定细小结构和大型工件上的单一或复合镀层、RoHS要求的痕量分析、测试珠宝和黄金或在连续生产线上在线测量,FISCHERSCOPE X-RAY仪器完全满足实验室和生产要求。XAN® 系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层,即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高,因此在同类产品中脱颖而出.


德国FISCHERSCOPE X-RAY XAN系列测厚仪



FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

界面友好的XAN型仪器十分适用于生产业务和研发领域中的材料分析测试。专门为黄金珠宝业设计的XAN型仪器,可用于快速、无损测量产品真伪,并准确确定实际的金含量。对于黄金及贵金属合金的详尽分析快速而直接。


XAN 310/315 XAN 220:专门从事金合金的成本效益分析。只有一个固定孔径和一个固定滤光片;因此特别适合贵金属分析。Xan仪器有不同的检测器,使其满足客户从很少的元素到更复杂的多元素分析的需求。

XAN 250:配备了硅漂移探测器后,XAN250型仪器能分析薄镀层,复杂合金及粉末、液体及尘埃的成分,这也是它为什么广受实验室、测试机构及贵金属冶炼厂、海关检验等机构欢迎的原因。仪器出色的重复精度,可以与灰吹法相媲美。

FISCHER X-ray荧光光谱仪


特性:

     ▪ 操作简单且性价比高。
     ▪ 自下而上进行测量,从而快速、简便地定位样品
     ▪ 广泛适用:为各个行业的典型需求量身定制了多种型号
     ▪ 以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析
     ▪ 带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型,可对薄镀层及微量成分进行精确测量

应用:

     ▪ 镀层厚度测量
     ▪ 厚度仅为几纳米的贵金属镀层
     ▪ 时尚首饰:对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析
     ▪ 抗磨损镀层,如:对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量
     ▪ 测试纳米级基础金属化层(凸点下金属化层,UBM) 

材料分析

     ▪ 测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度
     ▪ 专业实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析
     ▪ 依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则,检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质(例如重金属)
     ▪ 功能性镀层的成分,如测定化学镍中的磷含量


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