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德国FISCHERSCOPE X-RAY XUV

XUV系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na(11)开始的轻元素

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▶丨德国菲希尔XUV荧光镀层测厚仪介绍:

XUV系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na(11)开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线,因此在大气环境中通常无法使用该方法。因此,该仪器非常适合对要求严苛的镀层厚度进行测量和材料分析。FISCHERSCOPE X.RAY XUV仪器配有一个可抽真空的大型测量箱。其所装备的大面积硅漂移探测器能够探测低至1 keV的荧光辐射能量,从而能够有效地测量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L辐射。大孔径准直器的使用大幅提高了信号计数率,使仪器可以达到很小的重复精度和很低的测量下限。XUV非常适合测量很薄的镀层和痕量分析。


德国FISCHERSCOPE X-RAY XUV

特性:

检出限低、重复精度高,以及测量适用性广,因此特别适用于研究和开发使用
配备真空测量室和高性能硅漂移探测器,能够实现精确测量,尤其是对轻元素的测试
通过可编程 X、Y 和 Z 轴进行自动测试
准直器和滤波器可切换,因此可适用于各种材料和测试条件


应用实例:

种类、来源和真实性,是评估宝石价值的本质特征;而宝石材质的分析结果则是影响判断的决定性因素。通常,宝石的主要成份是铝和硅的氧化物,还会伴随有镁和钠等元素。另外,Cr、Fe、Ga等微量元素也是很重要的。XUV可以分析所有必要元素的光谱图。在多个领域的应用中,非常薄的Al镀层、Si镀层、氧化铝镀层和氧化硅镀层正在变得原来越重要。在真空环境中镀层厚度的测量结果有显着的提高。使用XUV来测量这些镀层,重复精度仅几个纳米。


涂层厚度测量

涂层厚度测量

      。原子序数从Na(11)开始的轻元素镀层,可测量厚度低至纳米级
      。铝镀层和硅镀层

材料分析

      。测定宝石的真伪与原产地
      。常规材料分析和取证
      。高分辨率痕量分析

典型应用领域

      。测量轻元素
      。测量超薄镀层和痕量分析
      。常规金属分析鉴定
      。非破坏式宝石分析
      。太阳能光伏产业


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