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HOMMEl-ETAMiC W20移动式粗糙度、波纹度及轮廓测量仪

HOMMEl-ETAMiC W20,面向生产现场的移动式粗糙度、波纹度及轮廓测量仪

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面向生产现场的移动式粗糙度、波纹度及轮廓测量仪

• 紧凑轻便
• 通过彩色触摸屏实现交互式操作
• 测头自动定位在工件表面上,所以调整的耗时少
• 用于测量国际标准所有常见粗糙度、波纹度和轮廓参数的自由探测系统
• 通过内置的粗糙度标准件对测量仪进行即时检测
• 易更换的基准面测头
• 用于即时打印测量结果的一体化打印机
• 共有7个测量程序,另加1个用于仪器检测的测量程序


 



功能特征 Features





具有自动探测系统的驱动箱
•用于单手操作的一体化起动键
•高精度线性导轨
•测量速度可变
•软件支持的基准面校正
•能在所有位置测量(包括仰测)
•适合于所有基准面测头的产品系列

测头电动下降
•针尖自动定位在工件表面并调整所需量程
•移动使用时,测量结束后针尖自动抬起,从而可预防无意损伤

移动式基准面测量

•移动应用时精密测量粗糙度、波纹度和轮廓
•确定未经过滤的P参数和W参数
•适用于密封面测量

通过触摸屏实现上下文操作

•具有4个基本功能的功能键条
•多种公差评价方法
•用户数据的输入快捷舒适
•概览性描述结果
•结果视图:参数、轮廓描述、互动式阿尔伯特曲线描述、各种各样的统计功能

一体式热敏打印机

•立即记录测量结果
•简易装纸功能
•打印带公差评价、轮廓、阿尔伯特曲线、附加输入以及统计的测量结果


用于量粗糙度、波纹度和轮廓的基准测头Long-term stable skid probes

凭借±300或±100 μm的量程和精确的红宝石支承,TKL系列的基准面测头特别适用于测量精细粗糙度。测头在出厂时得到校准,由于配置了电感转换器的双线圈系统,所以测头的持续稳定性出色。

测头TKl 300l
标准测头,用于测量平面、轴和直径4 mm以上内孔的R,W和P轮廓参数。
量程±300 µm
*大水平探测深度30 mm
配2 µm/90°针尖 商品号1000 4132
配5 µm/90°针尖 商品号243 588

测头TKlK 100/5
用于测量直径1 mm以上的小孔。
量程±100 µm
*大水平探测深度5 mm
配2 µm/90°针尖 商品号233 280
配5 µm/90°针尖 商品号M0 435 035
 

HOMMEl-ETAMiC W20移动式粗糙度仪
HOMMEl-ETAMiC W20移动式粗糙度仪

测头TKlQ 100/17
配有针对横向测量专门设计的支承,用于测量深槽、凹槽或开挡。
量程±100 µm
*大水平探测深度17 mm
配2 µm/90°针尖 商品号231 207
配5 µm/90°针尖 商品号1004 4932
 

测头TKlT 100/17
用于测量深槽。
量程±100 µm
垂直/水平探测深度13/17 mm
配2 µm/90°针尖 商品号552 726
配5 µm/90°针尖 商品号224 835
 




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