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FISCHERSCOPE X-RAY250高性能X射线荧光测量仪

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能,紧凑型且通用的X射线测量仪器,非常适合无损涂层厚度测量和材料分析。

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高性能X射线荧光测量仪,用于快速无损材料分析和涂层厚度测量。高性能X射线荧光测量仪X-RAY XAN250,高性能X射线荧光测量仪,配有**进的硅漂移探测器(SDD),可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能,紧凑型且通用的X射线测量仪器,非常适合无损涂层厚度测量和材料分析。XAN 250和XAN 252仪器特别适合于测量和分析薄涂层,即使其成分非常复杂或浓度很小。



X-RAY250高性能X射线荧光测量仪


主要特点介绍

    ▪ 高性能机型,具有强大的综合测量能力
    ▪ 配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片
    ▪ 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD),还适用于更复杂的多元素分析
    ▪ 由下至上的测量方向,可以非常简便地实现样品定位
    ▪ 高性能X射线荧光测量仪X-RAY XAN250


典型应用领域

    ▪ 对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量
    ▪ 对有害物质进行痕量分析,例如,玩具中的铅含量
    ▪ 在珠宝和手表业,以及在金属精炼领域,对合金进行高精度的分析
    ▪ 用于高校研究和工业研发领域 




FISCHERSCOPE X-RAY250高性能X射线荧光测量仪

为了为每一次测量创造理想的激励条件,该仪器的特点是可变孔径和初级滤波器。现代硅漂移探测器实现了高精度和良好的检测灵敏度。所有菲希尔X射线系统的特点是具有出色的精度和长期稳定性。重新校准的必要性大大降低,节省了时间和精力。对于高精度任务,可随时进行校准。为了为每次测量创造理想的激发条件,该仪器的特点是可变孔径和初级滤波器。现代的硅漂移检测器可实现高精度和良好的检测灵敏度.FISCHERSCOPE X-RAY系统具有出色的准确性和长期稳定性。大大减少了重新校准的必要性,节省了时间和精力。对于高精度任务,可以随时执行校准。FISCHER的基本参数方法可以分析固体和液体样品以及涂层系统而无需校准。


规格参数
预期用途
能量色散X射线荧光测量仪(EDXRF)用于测量薄涂层,痕量元素和合金
元素范围
铝(13)到铀(92)–同时*多24个元素
测量方向
自下而上
X射线探测器
硅漂移检测器(SDD)
分辨率(fwhm for Mn-Kα)
≤ 160 eV
测量点
Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放样品(测量距离0毫米)
测量距离
0…25毫米(0…1英寸)
样品定位
手动
缩放系数
Digital 1x, 2x, 3x, 4x
*大样品重量
13 kg (29 lb)
电源
AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
外形尺寸
 403 x 588 x 365 mm


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