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菲希尔荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN 110/120

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN系列配置多样,可以满足非常广泛的应用。它在快速精确分析和用户友好操作方面具备特殊的优势,如用于贵金属和金合金的分析。

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FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®系列荧光材料分析和镀层测厚仪:

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN系列配置多样,可以满足非常广泛的应用。它在快速精确分析和用户友好操作方面具备特殊的优势,如用于贵金属和金合金的分析。也可以用于电子和线路板行业*薄镀层分析。所有型号的硬件部件的安装位置相同。X射线管和探测器位于测量室的下方。测量方向从下到上。这样就可以快速方便地放置样品。XAN系列仪器根据X射线管,探测器,准直器和滤片数目的不同有几个版本可供选择。因此,XAN系列可以为各种应用和精度要求提供*优的解决方案,同时具备良好的成本效益。XAN仪器的分类中也包括硬件和软件专门设计用于满足珠宝行业和黄金行业特别需求的型号



应用实例

配备不同类型探测器的仪器都可以用来分析金合金。例如,配备了便宜的比例接收器探测器的XAN110,是分析包含几个元素的简单金合金的理想设备,例如分析含Au、Ag和Cu的黄色金合金。但是,如果合金中很多元素要测量或存在光谱重叠情况,那么配备半导体探测器的仪器,如XAN120,应该更加适合。由于具备非常好的分辨率,它也可以用来区分例如在牙合金中非常关键的金和铂以及融合的贵金属合金。对于实验室和测试机构而言,XAN150配备了硅漂移接收器(SDD),六种滤片和四种不同的准直器,可以满足多种多样的应用。这款仪器Au的重复精度可达0.5‰以下,准确性可以灰吹法相媲美。


菲希尔荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN 110/120

黄金珠宝检测

典型应用领域

珠宝和手表行业金和贵金属分析
测量几个纳米的*薄镀层,如印刷线路板和电子元件上的Au和Pd。
痕量分析(如电子元件(RoHS)或工具中的有害物质)
用XAN 150分析诸如Al,Si,P等轻元素
实验室,测试机构和大学里一般性的材料分析和镀层厚度测量


合金分析: CuNiZn

合金分析: CuNiZn

RoHS: 塑料内的有害物质

RoHS: 塑料内的有害物质


主要功能特征

带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。*高工作条件: 50 kV,50W
X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅PIN二极管或硅漂移探测器
准直器:固定或4个自动切换,Ø 0.2mm到 Ø2 mm
基本滤片:固定、3个切换或6个自动切换测量距离可在0--25 mm范围内调整
固定样品支撑台,有效支撑区域为318×327mm。*大样品质量2千克,*大样品高度86mm。
摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准,显示实际测量点大小。
设计获得许可,防护全面,符合德国X射线条例第4章第3节


应用实例



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