当前位置:首页 >工业检测 >X射线荧光分析仪 >FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm​菲希尔荧光镀层分析仪

FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm​菲希尔荧光镀层分析仪

ISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它结构紧凑,小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。

市场价:

优惠价:0.00

服务保障:原装真品|发票保障|全国包邮|售后无忧
立即留言

联系人:朱盛

联系电话:021-58951071

手机号:15921165535

邮箱:814294500@qq.com

工作时间:8:00-17:45

FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希尔荧光镀层分析仪简介

一一一耐用且价格便宜的X射线荧光测量仪,用于无损涂层厚度测量和材料分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希尔荧光镀层分析仪

FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它结构紧凑,小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯(17)到铀(92)。XUL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。本款仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

一款适合电镀厂测量镀层厚度的便宜耐用的仪器。它配备了一个固定的准直器和滤片,射线管出射点稍大,非常适合测量点在1mm以上的应用。低能射线元件激发效率较低;但是对于标准的测量典型电镀层厚度的应用,如Cr、Ni、Cu,没有任何问题。

测量PCB板上:Au/Ni/Cu/PCB

黄金珠宝检测

典型的应用领域有:

       在小部件如螺钉、螺栓和螺帽上的测量
       在连接器和电气元件上的测量
       电镀液的溶液成分分析

连接器:Au/Ni/CuSn6

防腐保护: Zn/Fe

汽车: Cr/Ni/Cu/ABS

菲希尔荧光镀层分析仪x-ray设计理念:

FISCHERSCOPE X-RAY XUL设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途,有以下两种不同版本型号,分别对应不同的样品平台:
        XUL: 固定平面平台
        XUL XYm: 手动X/Y平台
一高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能,可以定位测量位置。
一尽管仪器本身结构紧凑,但是由于XUL光谱仪配备了宽敞的测量室,从而可以测量更大体积的样品。
一外罩底部留下了空隙,可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品,如大面积的印制线路板等。
一通过强大而界面友好的WinFTM®软件,可以在电脑上便捷地完成整个测量过程,包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。
一XUL型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器,型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法令要求
   


 样品台

XUL

XUL XYm

 设计

固定样品平台

手动XY平台

 X/Y方向*大可移动范围

-

50 x 50 mm

 样品放置可用区域

250 x 280mm

 样品*大重量

2kg

 样品*高高度

240mm

更多详细信息,请参考FISCHERSCOPE® X-RAY XUL参数或联系我们。



参数介绍:

样品台

XUL

XUL XYm

设计

固定样品平台

手动XY平台

X/Y方向*大可移动范围

-

50 x 50 mm

样品放置可用区域

250 x 280mm

样品*大重量

2kg

样品*高高度

240mm

更多详细信息,请参考FISCHERSCOPE® X-RAY XUL参数或。

相关产品
日本奥林巴斯 Vanta系列手持式X射线荧光分析仪
DELTA Element手持式X射线荧光(XRF)分析仪
日本奥林巴斯DELTA Professional X射线荧光分析仪
斯派克SPECTRO xSORT手持式能量色散型光谱仪
牛津X-Strata920 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
奥林巴斯DE2000手持式光谱仪(DELTA Element)
FISCHERSCOPE XAN 220 X射线荧光分析仪

友情链接:化工仪器网|谷瀑环保网|笃挚仪器网|上海笃挚仪器|笃挚仪器(上海)有限公司

其他链接:关于笃挚|企业文化|资质|联系我们|招贤纳士|企业风采

沪ICP备16027846号-8     ©2021 笃挚仪器(上海)有限公司

笃挚公司-企业网上亮照