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FISCHER荧光镀层分析仪X-RAY XDL 220

X-RAY XDL 220 X射线荧光光谱仪,用于对保护和装饰涂料,量产的零件和印制板上的涂层进行手动或自动厚度测量。

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FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。*多可同时测量从氯(17)到铀(92)中的24 种元素。X-RAY XDL 220平面样品平台,马达驱动的Z轴系统。

XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。X射线荧光光谱仪,用于对保护和装饰涂料,量产的零件和印制板上的涂层进行手动或自动厚度测量。

 XDL 220荧光测厚仪


典型应用领域

▶测量大规模生产的电镀部件
▶测量超薄镀层,例如:装饰铬
▶测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
▶测量印刷线路板
▶分析电镀溶液

 XDL 220荧光测厚和材料分析仪应用实例

主要特征

▶带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦▶X射线管。*高工作条件:50KV,50W
▶X射线探测器采用比例接收器
▶准直器:固定或4个自动切换,0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
▶基本滤片:固定或3个自动切换
▶测量距离可在0-80 mm范围内调整
▶固定样品支撑台 ,手动XY工作台
▶摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准,显示实际测量点大小。
▶设计获得许可,防护全面,符合德国X射线条例第4章第3节


技术参数
预期用途 能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用来测量薄镀层和微小结构,分析合金和微量组分。
元素范围
*多同时测量从氯(Cl 17)到铀(U 92)之间的24 种元素
设计理念
台式仪器,测量门向上开启
X 射线源
带铍窗口的钨管
高压
三种高压: 30 kV,40 kV,50 kV,可调整
孔径(准直器)
Ø 0.3 mm (可选:圆形Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;长方形0.3 mm x 0.05 mm)
测量点

取决于测量距离及使用的准直器大小;实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。zui小的测量点大小约Ø 0.16mm.

测量距离

如测量室内部

0 ~ 80 mm,未校准范围,使用保护的DCM 功能
0 ~ 20 mm,已校准范围,使用保护的DCM 功能
X 射线接收器
比例接收器
视频显微镜
高分辨 CCD 彩色摄像头,用于查看测量位置
放大倍数
20x ~ 180x (光学变焦: 20x ~ 45x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
设计 固定式样品平台
可用样品放置区域
463 x 500 mm
样品*大重量
20 kg
样品*大高度
140 mm 
外部尺寸
宽x 深x 高[mm]:570 x 760 x 650
操作温度
10°C – 40°C / 50°F – 104°F
储藏或运输温度
 0°C – 50°C / 32°F – 122°F






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