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X-RAY XAN310高性价比X射线材料分析及镀层测厚仪

X射线荧光材料分析及镀层测厚仪,特别适用于基本镀层厚度及合金成分的无损分析。

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FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310高性价比的紧凑入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪,用于快速、无损分析镀层厚度及合金成分FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射线荧光材料分析及镀层测厚仪,特别适用于基本镀层厚度及合金成分的无损分析。XAN310可以快速分析成分并用克拉显示测量值,重量%或%o,其他合金成分也会同时得出。        FISCHERSCOPE@-X-RAY系统有着出色的精确性和良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器,节省时间和精力。由于采用了基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。

FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310
设计理念:

XAN 310是一款用户界面友好的台式测量仪器。紧凑型的设计使仪器轻量化并且只需要很小的空间。测量室的门并不是向上打开,而是向前。因此可以使用笔记本放置在仪器_上方进行操作,来节省更多的空间。样品定位简单便捷。X射线源和接收器都集成在仪器底部舱室中,因而样品的底部是实际被测量面,而样品本身则由一层透明的薄膜窗口托放在测量室中。
内置可变焦视频系统和定位十字线,可以方便、准确地定位测量位置。通过功能强大、界面友好的WinFTM@软件,可以在计算机上便捷地完成整个测量过程,以及测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。FISCHERSCOPE X-RAY XAN完全满足DIN ISO 3497标准和ASTM B 568标准。

测量方向
镀层厚度和材料分析

典型应用领域

✔ 珠宝和手表行业金和贵金属分析
✔ 测量几个纳米的超薄镀层,如印刷线路板和电子元件上的Au和Pd。
✔ 痕量分析(如电子元件(RoHS)或工具中的有害物质)
✔ 用XAN 150分析诸如Al,Si,P等轻元素
✔ 实验室,测试机构和大学里一般性的材料分析和镀层厚度测量

通用规格
设计用途
用于无损测量镀层厚度及分析材料成分
元素范围
从元素氯(17)到铀(92),*多可同时测定24种元素
形式设计
台式仪器,测量门向前开启
测量方向
由下往上
X射线源
X射线管
带铍窗口的钨靶射线管
高压
三档: 30kV、 40kV、50 kV
孔径(准直器)
φ0.3mm
测量点尺寸
0.5mm(当测量距离MD= 0 mm时)
X射线探测

X射线探测器
比例接收器
测量距离
0... 25mm
尺寸规格
外部尺寸(宽X深X高)
404x455x367mm
重量
大约25 kg
环境要求
使用时温度
10°C- 40°C
存储或运输时温度
0°C- 50°C
空气相对湿度
≤95%,无结露


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